Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur UMCS
Dziś jest 25.09.2017 | Licznik odwiedzin: 71486
Podstawy teoretyczne mikroskopi tunelowej
Efekt tunelowy
Co my widzimy?
STS
Budowa i zasada działania mikroskopu tunelowego
Budowa i zasada działania
Szczegóły skanowania
Tryby pracy STM
Przygotowanie powierzchni
Ultra wysoka próżnia
Skaner
Ostrze
Tłumienie wibracji
Mikroskopy rodziny STM
Obrazowanie i analiza pomiarów
Obrazowanie i analiza - wstęp
Struktura danych
Korekcja tła
Profil liniowy
Histogram
Transformata Fouriera
Filtrowanie danych
Reprezentacja 3D
Rheed
Rheed_wstęp
Galeria obrazów z STM
Galeria obrazów
Nanotechnologia
Czym jest nanotechnologia?
Różności
Prefixy systemu SI
Hodowla kryształów
Wybrane dane półprzewodników
Quantum Mechanic Animation
Metoda odcięcia średniej PDF Drukuj E-mail

Celem tej metody jest głównie korekcja wyraźnych różnic wysokości,w następujących po sobie liniach obrazu, które mogą się zdarzyć przypadkiem i nie mają charakteru liniowego. Metoda ta polega na obliczeniu średniej wysokości, z każdego wiersza/kolumny, a następnie odjęciu otrzymanych wyników od orginalnych danych .

Obraz przed korekcją tla Obraz przed korekcją tla
Rysunek 3.3.1:Surowy obraz powierzchni Si(1 1 1) po naparowaniu Au(6x6), pokrytej wyspami Pb o wysokości 0.1~ML. 30x30 nm, U=-1.930 V, I=0.360 nA Rysunek 3.3.2: Obraz po operacji korekcji tła metodą odcięcia średniej.
Wyszukiwarka
Polecam
Galeria ScienceGl
Metrial Science
Nanorex
ARPES

| home | sitemap |