Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur UMCS
Dziś jest 25.09.2017 | Licznik odwiedzin: 71486
Podstawy teoretyczne mikroskopi tunelowej
Efekt tunelowy
Co my widzimy?
STS
Budowa i zasada działania mikroskopu tunelowego
Budowa i zasada działania
Szczegóły skanowania
Tryby pracy STM
Przygotowanie powierzchni
Ultra wysoka próżnia
Skaner
Ostrze
Tłumienie wibracji
Mikroskopy rodziny STM
Obrazowanie i analiza pomiarów
Obrazowanie i analiza - wstęp
Struktura danych
Korekcja tła
Profil liniowy
Histogram
Transformata Fouriera
Filtrowanie danych
Reprezentacja 3D
Rheed
Rheed_wstęp
Galeria obrazów z STM
Galeria obrazów
Nanotechnologia
Czym jest nanotechnologia?
Różności
Prefixy systemu SI
Hodowla kryształów
Wybrane dane półprzewodników
Quantum Mechanic Animation
Metoda średniego zbocza PDF Drukuj E-mail

Metoda ta polega na obliczeniu średniego gradientu, dla każdego wiersza/kolumny, a następnie odjęciu otrzymanych wartości od odpowiednich wierszy/kolumn danych wejściowych. Metoda generalnie dobrze sprawdza się w przypadku tła większości, ponadto jest mniej drastyczna w działaniu niż metoda odcięcia średniej.

Obraz przed korekcją Obraz po korekcji tła metodą średniego zbocza
Rysunek 1:Surowy obraz powierzchni Si(3 3 5) pokrytej łańcuchami Au o wysokości 0.46ML; 50x50 nm, U=-2.076 V, I=0.204 nA. Rysunek 2: Obraz po operacji korekcji tła metodą odcięcia średniego zbocza.
Wyszukiwarka
Polecam
Galeria ScienceGl
Metrial Science
Nanorex
ARPES

| home | sitemap |