Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur UMCS
Dziś jest 22.11.2017 | Licznik odwiedzin: 71486
Podstawy teoretyczne mikroskopi tunelowej
Efekt tunelowy
Co my widzimy?
STS
Budowa i zasada działania mikroskopu tunelowego
Budowa i zasada działania
Szczegóły skanowania
Tryby pracy STM
Przygotowanie powierzchni
Ultra wysoka próżnia
Skaner
Ostrze
Tłumienie wibracji
Mikroskopy rodziny STM
Obrazowanie i analiza pomiarów
Obrazowanie i analiza - wstęp
Struktura danych
Korekcja tła
Profil liniowy
Histogram
Transformata Fouriera
Filtrowanie danych
Reprezentacja 3D
Rheed
Rheed_wstęp
Galeria obrazów z STM
Galeria obrazów
Nanotechnologia
Czym jest nanotechnologia?
Różności
Prefixy systemu SI
Hodowla kryształów
Wybrane dane półprzewodników
Quantum Mechanic Animation
Wzmacnianie krawędzi metodą Laplace'a. PDF Drukuj E-mail

Laplasjan różni się tym od innych filtrów wzmacniających krawędzie tym, że używa drugiej pochodnej do obliczeń zmian intensywności jasności obrazu i działa we wszystkich kierunkach, dzięki czemu krawędzie są ostrzejsze. W przypadku obrazów cyfrowych operator Laplace'a zapiszemy jako:

[3.7.3.1]

Oblicza się najpierw różnicę między pixelem centralnym i wszystkimi pixelami otaczającymi, a następnie uśrdenia. W miejscach krawędzi te różnice są duże, natomiast w pozostałych obszarach będzie mała. Rozjaśnienia będziemy mieli w miejscu przebiegu krawędzi.

lap1
lap2
Rysunek 3.7.3-1: Obraz powierzchni wicynalnej Si(1 1 1)-(7x7); 20x20 nm, U=2.038 V, I=2.51 nA.
Rysunek 3.7.3-2: Obraz po operacji wzmocnienia krawędzi metod± Laplace'a.
Wyszukiwarka
Aktualności
Polecam
Galeria ScienceGl
Metrial Science
Nanorex
ARPES

| home | sitemap |