Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur UMCS
Dziś jest 28.07.2017 | Licznik odwiedzin: 71486
Podstawy teoretyczne mikroskopi tunelowej
Efekt tunelowy
Co my widzimy?
STS
Budowa i zasada działania mikroskopu tunelowego
Budowa i zasada działania
Szczegóły skanowania
Tryby pracy STM
Przygotowanie powierzchni
Ultra wysoka próżnia
Skaner
Ostrze
Tłumienie wibracji
Mikroskopy rodziny STM
Obrazowanie i analiza pomiarów
Obrazowanie i analiza - wstęp
Struktura danych
Korekcja tła
Profil liniowy
Histogram
Transformata Fouriera
Filtrowanie danych
Reprezentacja 3D
Rheed
Rheed_wstęp
Galeria obrazów z STM
Galeria obrazów
Nanotechnologia
Czym jest nanotechnologia?
Różności
Prefixy systemu SI
Hodowla kryształów
Wybrane dane półprzewodników
Quantum Mechanic Animation
Histogram PDF Drukuj E-mail

Histogram jest bardzo przydatnym narzędziem analizy obrazów. Pokazuje częstość występowania poszczególnych wartości pixeli w obrazie. W przypadku obrazów z mikroskopu STM, jest dobrym wskaĽnikiem opisującym spłaszczenie powierzchni. Dla idealnie płaskiej powierzchni, ma postać cienkiego wierzchołka odpowiadającego dominującej wartości. W przypadku obrazu powierzchni pokrytej licznymi wyspami histogram posiada dwa wyraźne wierzchołki. Wzajemna odległość tych wierzchołków, daje nam informacje o średniej różnicy wysokości między poziomami podłoża i wysp

Rysunek 3.3.5-1: Po lewej obraz powierzchni Si(1 1 1) pokrytej wyspami Pb o wysokości 0.13ML; 100x100 nm, U=+1.75 V, I=0.1 nA. Po prawej histogram tego obrazu.

Poniżej widzimy jak wygląda histogram powierzchni niemalże płaskiej. Obraz po lewej pokazuje płaszczyznę 500x500 nm. Po prawej hsitogram tej powierzchni.

Rysunek 3.3.5-2:Po lewej obraz powierzchni Si(5 3 3) pokrytej 0.28ML Au; 500x500 nm, U=-2.359 V, I=0.509 nA. Po prawej histogram tego obrazu.
Wyszukiwarka
Aktualności
Software
WSxM
Spip
GSxM
Gwyddion
SIESTA
Winshell-LaTeX 4 windows
Polecam
Galeria ScienceGl
Metrial Science
Nanorex
ARPES

| home | sitemap |