Zakład Fizyki Powierzchni i Nanostruktur UMCS
Dziś jest 27.04.2017 | Licznik odwiedzin: 71486
Podstawy teoretyczne mikroskopi tunelowej
Efekt tunelowy
Co my widzimy?
STS
Budowa i zasada działania mikroskopu tunelowego
Budowa i zasada działania
Szczegóły skanowania
Tryby pracy STM
Przygotowanie powierzchni
Ultra wysoka próżnia
Skaner
Ostrze
Tłumienie wibracji
Mikroskopy rodziny STM
Obrazowanie i analiza pomiarów
Obrazowanie i analiza - wstęp
Struktura danych
Korekcja tła
Profil liniowy
Histogram
Transformata Fouriera
Filtrowanie danych
Reprezentacja 3D
Rheed
Rheed_wstęp
Galeria obrazów z STM
Galeria obrazów
Nanotechnologia
Czym jest nanotechnologia?
Różności
Prefixy systemu SI
Hodowla kryształów
Wybrane dane półprzewodników
Quantum Mechanic Animation
Filtrowanie obrazów

Filtrowanie danych ma na celu, usunięcie z obrazu wszelakiej natury szumów, o małych i dużych częstościach, związanych z pracą aparatury, błędami odwzorowania itd. Z pojęciem filtru kojarzy się od razu pojęcie korelacji, która to oblicza nową wartość jasności pixela na podstawie sąsiadujących pixeli. Każdy sąsiadujący pixel wnosi udział do obliczenia jasności nowego pixela w postaci procentu swojej wartości - wagi. Wagi poszczególnych pixeli są zapisywane w postaci odpowiedniej tablicy - maski. Każdy element maski jest nazywany współczynnikiem splotu.

Filry górnoprzepustowe-wyostrzające
Filtry dolnoprzepustowe - wygładzające.
Wzmacnianie krawędzi metodą Laplace'a.
Wzmacnianie krawędzi metodą gradientu kierunkowego.
Wyszukiwarka
Aktualności
Polecam
Galeria ScienceGl
Metrial Science
Nanorex
ARPES

| home | sitemap |